La presente Norma Internazionale fa parte della serie IEC 60749.
Essa fornisce la descrizione di un metodo di prova in condizioni di regime permanente di durata di vita sotto temperatura ed umidità con polarizzazione.
Lo scopo è quello di valutare l'affidabilità di dispositivi a semiconduttori in contenitori non ermetici in ambienti umidi.
Il tipo di prova descritto in questa Norma deve considerarsi distruttivo.
La prova usa condizioni di temperatura, umidità e polarizzazione che accelerano la penetrazione dell'umidità assorbita (moisture) attraverso il materiale protettivo esterno o nei punti di interfacciamento tra la protezione esterna ed i conduttori metallici che la attraversano.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.

La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.